Ключевая разница - дифракция Брэгга и Лауэ
Дифракция Брэгга и Лауэ - это законы, используемые для объяснения дифракции рентгеновских лучей в кристаллографических методах. Закон Брэгга является частным случаем дифракции Лауэ. Дифракция Лауэ (или уравнение Лауэ) относится к рассеянию волн в процессе дифракции на кристалле. Уравнение Лауэ было названо в честь Макса фон Лауэ (1879-1960). С другой стороны, закон Брэгга дает углы для когерентного и некогерентного рассеяния на кристаллической решетке. Ключевое различие между дифракцией Брэгга и Лауэ состоит в том, что дифракция Брэгга дает углы для когерентного и некогерентного рассеяния от кристаллической решетки, тогда как дифракция Лауэ относится к рассеянию волн в процессе дифракции на кристалле.
Что такое дифракция Брэгга?
Брэгговская дифракция дает углы когерентного и некогерентного рассеяния на кристаллической решетке. Кристаллографические методы включают падение рентгеновских лучей на кристаллические решетки и наблюдение за рассеянием волн. Когда рентгеновские лучи рассеиваются кристаллической решеткой, закон Брэгга описывает углы, под которыми рентгеновские лучи отражаются гранями спайности кристалла. Наблюдаемый здесь угол известен как тета (θ).
Уравнение Брэгга
Закон Брэгга можно представить следующим образом.
nλ=2d sinθ
Здесь d - расстояние между атомными слоями кристаллической решетки. Его также называют шагом решетки, и он является переменным параметром (зависит от типа кристалла). Лямбда (λ) также является переменной и представляет собой длину волны падающего рентгеновского луча. θ - угол рассеяния. Символ «n» представляет целое число. 2d sinθ дает разность хода между двумя волнами, которые подвергаются конструктивной интерференции.
Рисунок 1: Плоскости брэгговской дифракции
Дифракция Брэгга возникает, когда период решетки кристалла сравним с падающим рентгеновским лучом. При этом рентгеновский пучок должен зеркально рассеиваться на атомах этой решетки (зеркальное отражение от поверхности), а рассеянный пучок должен подвергаться конструктивной интерференции.
Что такое дифракция Лауэ?
Дифракция Лауэ (или уравнение Лауэ) относится к рассеянию волн в процессе дифракции на кристалле. Чаще всего он используется для полировки поверхности или для измерения поверхности. Поэтому этот метод используется для измерения ориентации кристаллов. Дифрактограмма Лауэ дается группами параллельных атомных слоев в кристалле; узор представляет собой регулярный набор пятен на фотоэмульсии.
Рисунок 2: Паттерн Лауэ, заданный Кристаллом
Измерения выполняются с использованием пропускания или обратного отражения рентгеновских лучей. Когда для испытания используется образец, содержащий один тип кристаллов, можно получить высокую интенсивность дифракции. Симметрия узора Лауэ часто используется для приложений. Если входящий рентгеновский пучок параллелен высокосимметричному направлению решетки, то лауэ-диаграмма, создаваемая этим лучом, также является высокосимметричной. Например, если падающий пучок параллелен краю элементарной ячейки кристалла, этот пучок дает четырехкратную симметричную картину пятен Лауэ.
В чем разница между дифракцией Брэгга и Лауэ?
Дифракция Брэгга и Лауэ |
|
| Дифракция Брэгга дает углы когерентного и некогерентного рассеяния на кристаллической решетке. | Лауэдифракция относится к рассеянию волн в процессе дифракции на кристалле. |
| Директор | |
| Дифракция Брэгга требует решеток, сгруппированных в разные семейства плоскостей. | Дифракция Лауэ не требует особых плоскостей или интервалов. |
| Отражение | |
| Дифракция Брэгга требует зеркального отражения падающего излучения. | Дифракция Лау не требует зеркального отражения излучения. |
Резюме – Дифракция Брэгга и Лауэ
Дифракции Брэгга и Лауэ используются в качестве кристаллографических методов и законов для описания различных кристаллических систем. Ключевое различие между дифракцией Брэгга и дифракции Лауэ состоит в том, что дифракция Брэгга дает углы для когерентного и некогерентного рассеяния от кристаллической решетки, тогда как дифракция Лауэ относится к рассеянию волн в процессе дифракции на кристалле..
